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進(jìn)口日本OMRON形狀測量傳感器,D4A-1102N

進(jìn)口日本OMRON形狀測量傳感器,D4A-1102N

  • 所屬分類:日本OMRON歐姆龍
  • 瀏覽次數(shù):
  • 發(fā)布日期:2017-09-30
  • 產(chǎn)品概述
  • 性能特點
  • 技術(shù)參數(shù)

進(jìn)口日本OMRON形狀測量傳感器,D4A-1102N

更簡單,更的形狀測量。

穩(wěn)定測量難以檢測的顏色、材質(zhì)與復(fù)雜形狀

構(gòu)造簡單

安裝簡便。只需要安裝傳感器探頭與控制器,即可投入使用。

※ZG2-WDC□1A型傳感器控制器的標(biāo)準(zhǔn)配置

豐富的測量項目

(業(yè)內(nèi)較高) 靈敏度提高12

圖層面、黑色橡膠

較暗涂層面和黑色橡膠等難以反射光線,其顏色、材質(zhì)使傳感器探頭受光量不足,易受到外部光線的干擾,因此以往的激光測量床干起難以測量此類物體。而ZG2具有高靈敏度,能徹底減輕外部光線的干擾,從而一舉解決該難題。配備的APS功能,可根據(jù)周圍照明環(huán)境自動調(diào)節(jié)感光靈敏度和背景消除水平等參數(shù),輕松且準(zhǔn)確地再現(xiàn)形狀輪廓。實現(xiàn)測量。此外,段曝光時間下也可進(jìn)行測量,從而對應(yīng)移動物體的檢測。

詳情請參閱APS功能(P9)、新光學(xué)系統(tǒng)ONPSP8)。

傾斜的透明物體、反光面

對于反光面和透明物體等正反射較強(qiáng)的測量對象,如果稍有傾斜,光反射量就會驟減,導(dǎo)致測量變得不穩(wěn)定。而配置高性能高斯透鏡探頭的ZG2-WDS3VT課解決該問題。傾斜對應(yīng)范圍比此前型號擴(kuò)大2.5倍,可在較大±5°傾斜范圍內(nèi)實現(xiàn)穩(wěn)定測量。使用與檢測鏡頭與玻璃板等的組裝。

詳情請參閱高性能高斯透鏡(P8

電子零件的組裝檢測

可穩(wěn)定測量CCDCMOS、水晶振動元件的水晶片等的玻璃及表面反光零件。通過檢測基板與封裝面的高差,完成零件的組裝檢測。

鏡頭的組裝檢測

檢測鏡頭頂點與競價的高差,檢查組裝結(jié)果是否正確。

速度提高10

高速線

同時存在黑色和金屬面的檢測物體。圓柱形和形狀復(fù)雜的物體。這些檢測對象的位置不同,其激光反射量、反射監(jiān)督也存在差異,因此很難清晰且穩(wěn)定地再現(xiàn)輪廓。歐姆龍獨有多靈敏度感應(yīng)功能在解決上述問題中頗受好評,且該功能變得更為。作為改進(jìn)課題之一的測量速度已得到提高,因此即便是在高速線上也能使用本產(chǎn)品。

對射式光電傳感器.jpg

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